由各個(gè)專(zhuān)業(yè)部門(mén)或使用者按檢測(cè)對(duì)象的具體要求,而制定或制作的試塊,稱(chēng)為對(duì)比試塊。
由權(quán)威機(jī)構(gòu)對(duì)材料、形狀、尺寸、性能等認(rèn)可的試塊,稱(chēng)為標(biāo)準(zhǔn)試塊。
超聲波衰減的原因有:(1)由聲速擴(kuò)散引起的衰減(2)由散射引起的衰減(3)由于介質(zhì)的吸收引起的衰減。