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分析檢測(cè)室不允許采用內(nèi)部方法和設(shè)備制造商提供的方法。
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質(zhì)量計(jì)控制圖的控制界限,一般都取4倍的標(biāo)準(zhǔn)差。
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在質(zhì)量統(tǒng)計(jì)控制圖中,若某個(gè)點(diǎn)超出了控制界限,就說(shuō)明工序處于波動(dòng)狀態(tài)。
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