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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】黑盒測(cè)試的缺點(diǎn)有哪些？
答案：
①要測(cè)試每個(gè)可能的輸入流幾乎是不可能的；
②會(huì)有很多程序路徑?jīng)]有被測(cè)試到；
③不能直接針對(duì)特定程序段...
②會(huì)有很多程序路徑?jīng)]有被測(cè)試到；
③不能直接針對(duì)特定程序段...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】黑盒測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)有哪些？
答案：
①對(duì)于較大的代碼單元來(lái)說(shuō)，黑盒測(cè)試比白盒測(cè)試效率要高；
②測(cè)試人員不需要了解實(shí)現(xiàn)的細(xì)節(jié)，包括特定的編程語(yǔ)言；<...
②測(cè)試人員不需要了解實(shí)現(xiàn)的細(xì)節(jié)，包括特定的編程語(yǔ)言；<...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】軟件測(cè)試的經(jīng)典定義？
答案：
1、測(cè)試是程序的執(zhí)行過(guò)程，目的在于發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤；
2、一個(gè)好的測(cè)試在于能發(fā)現(xiàn)至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤；
3、一個(gè)...
2、一個(gè)好的測(cè)試在于能發(fā)現(xiàn)至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤；
3、一個(gè)...
