A.有棱鏡高懸高測(cè)量 B.無棱鏡商懸高測(cè)量 C.有儀器高懸高測(cè)量 D.無儀器高懸高測(cè)量 E.以上都是
A.測(cè)站點(diǎn)三維坐標(biāo) B.后視點(diǎn)平面坐標(biāo) C.放樣點(diǎn)三維坐標(biāo) D.儀器高和棱鏡高 E.以上只有A、B、D正確
A.后視點(diǎn)平面坐標(biāo) B.測(cè)站點(diǎn)三維坐標(biāo) C.儀器點(diǎn)和棱鏡高 D.待測(cè)點(diǎn)三維坐標(biāo) E.以上都是