A、空載損耗大 B、內(nèi)部絕緣擊穿 C、銅損增大 D、一次繞組短路
A、變比相同 B、連接級(jí)別相同 C、容量之比不易超過(guò)1:3 D、短路電壓相同
A、不變 B、增大 C、減少 D、恒定