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ASME(04版)規(guī)范要求氦質(zhì)譜檢漏時(shí),如果系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)采用比3.2mm更小的距離,則檢驗(yàn)掃描時(shí)的距離應(yīng)()此距離。
A.遠(yuǎn)大于
B.近似等于
C.遠(yuǎn)小于
D.都不對(duì)
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單項(xiàng)選擇題
ASME(04版)規(guī)范要求氦質(zhì)譜檢漏時(shí),除非另有規(guī)定,一般檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度應(yīng)該在試驗(yàn)前、后、以及中間每隔不超過()小時(shí),均作一次測(cè)定。
A.1
B.2
C.3
D.4
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單項(xiàng)選擇題
對(duì)于既不能充內(nèi)壓也不能抽真空的薄膜部件的檢漏,可以采用()
A.鹵素檢漏法
B.氨檢漏法
C.高頻電火檢漏法
D.熒光檢漏法
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